檢查：鎢燈兩端有工作電壓，但燈不亮；取下鎢燈用萬(wàn)用表電阻檔檢測(cè)。
處置：更換保險(xiǎn)絲，（如更換后再次燒斷則要檢查供電電路）；
檢查：燈絲電壓、陽(yáng)極電壓均有，燈絲也可能未斷（可看到燈絲發(fā)紅）；
（1）故障：沒(méi)有任何檢測(cè)信號(hào)輸出；
檢查：將波長(zhǎng)設(shè)定為530nm，狹縫盡量開(kāi)到zui寬檔位，在黑暗的環(huán)境下用一張白紙放在樣品室光窗出口處，觀察白紙上有無(wú)綠光斑影像；
處置：檢查光源鏡是否轉(zhuǎn)到位？雙光束儀器的切光電機(jī)是否轉(zhuǎn)動(dòng)了（耳朵可以聽(tīng)見(jiàn)電機(jī)轉(zhuǎn)動(dòng)的聲音）？
（2）故障：樣品室內(nèi)無(wú)任何物品的情況下，全波長(zhǎng)范圍內(nèi)基線噪聲大；
檢查：觀察光源是否照射到入射狹縫的中央？石英窗上有無(wú)污染物？
（3）故障：樣品室內(nèi)無(wú)任何物品的情況下，僅僅是紫外區(qū)的基線噪聲大；
原因：氘燈老化、光學(xué)系統(tǒng)的反光鏡表面劣化、濾光片出現(xiàn)結(jié)晶物；
處置：更換氘燈、用火棉膠粘取鏡面上的污物或用研磨膏研磨濾光片（注意：此種技巧需要有一定維修經(jīng)驗(yàn)者來(lái)實(shí)施）；
（4）故障：樣品室放入空白后做基線記憶，噪聲較大，紫外區(qū)尤甚；
原因：比色皿表面或內(nèi)壁被污染、使用了玻璃比色皿或空白樣品對(duì)紫外光譜的吸收太強(qiáng)烈，使放大器超出了校正范圍；
（5）故障：吸光值結(jié)果出現(xiàn)負(fù)值（zui常見(jiàn)）；
處置：做空白記憶、調(diào)換參比液或用參比液配置樣品溶液；
原因：排除儀器本身的原因外，zui大的可能是樣品溶液不均勻所致；在簡(jiǎn)易的單光束儀器中，樣品池架一般為推拉式的，有時(shí)重復(fù)推拉不在同一個(gè)位置上；
（7）故障：做基線掃描或樣品掃描時(shí)，基線或信號(hào)有一個(gè)大的負(fù)脈沖；
原因：掃描速度設(shè)置得過(guò)快，信號(hào)在讀取時(shí)，誤將濾光片或光源鏡的切換當(dāng)做信號(hào)讀取了；
（8）故障：做基線掃描或樣品掃描時(shí)，基線或信號(hào)有一個(gè)長(zhǎng)時(shí)間段的負(fù)值或滿屏大噪聲；
原因：濾光片飼服電機(jī)“失步”，造成檔位錯(cuò)位，國(guó)產(chǎn)電機(jī)尤甚；
原因：波長(zhǎng)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)產(chǎn)生位移；
檢查：通過(guò)氘燈的656.1nm的特征譜線來(lái)判斷波長(zhǎng)是否準(zhǔn)確；
（10）故障：信號(hào)的分辨率不夠，具體表現(xiàn)是：本應(yīng)疊加在某一大峰上的小峰無(wú)法觀察到；
處置：將掃描速度、狹縫寬窄、時(shí)間常數(shù)三者擬合成一個(gè)*化的條件；
原因：開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)因長(zhǎng)期氧化所致造成接觸不良；
（12）故障：儀器零點(diǎn)飄忽不定，主要反映在簡(jiǎn)易儀器上；
原因：在簡(jiǎn)易儀器中，零點(diǎn)往往是通過(guò)電位器來(lái)調(diào)整，這種電位器一般是炭膜電阻制作的，使用久了往往造成接觸不良；
點(diǎn)擊交流